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簡要描述：● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定)● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-11-08訪 問 量：114產(chǎn)品中心
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詳細介紹
| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
|---|
非常適用于界面化學(xué)、無機物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。
●新型功能材料領(lǐng)域
– 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
– 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
●陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
– 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
– 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
– 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
– 漿料狀樣品
– 濾光器
– 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
●半導(dǎo)體領(lǐng)域
– 異物附著在硅晶片表面的原理解析
– 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
– CMP漿料的相互作用
●聚合物/化工領(lǐng)域
– 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
– 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究
– 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
●制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
– 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測
– 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運動，粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動。通過光子相關(guān)法分析這種波動，就可以求得粒度和粒度分布。
對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應(yīng)的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法。
電滲流是指在zeta電勢測量期間cell內(nèi)發(fā)生的溶液流。當(dāng)cell壁表面 帶電時，溶液中的抗衡離子會聚集在cell 壁表面上。當(dāng)施加電場時， 抗衡離子以相反的符號移動到電極側(cè)，并且在cell 的中心附近發(fā)生 反向流動以補償流動。 通過實際測量顆粒的表觀電泳遷移率并分析電滲流，可獲得考慮到 cell 污染（例如樣品的吸附和沉降）的影響的正確的靜止面面，并可獲得真實的zeta電勢/電泳遷移率。（森?岡本公式參照）
森·岡本公式
充分考慮電滲流后進行樣品池內(nèi)泳動速度的解析
z:距單元中心位置的距離
Uobs（z）：在單元中位置z處的表觀遷移率
A=1/[（2/3）-（0.420166/k）] k=a/b:2a和2b是電泳單元截面的橫和縱的長度
上方向：粒子的真實遷移率
U0:單元上下壁面的平均遷移率
⊿U0:單元上下壁面的遷移率差
ELSZ Series通過實測樣品內(nèi)多點觀察到的電泳移動度，可以確認測量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰。
固體平板樣品池的應(yīng)用
固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。
實測樣品池高度方向各層觀測粒子的電泳移動度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進而求得平板樣品表面的ZETA電位。
對于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的ELSZ series很難測量到所需結(jié)果。
但現(xiàn)在，ELSZ series搭載的標準樣品池的測量范圍擴大，可測量稀溶液樣品及至高濃度溶液樣品，并且，通過采用FST法的高濃度樣品池可測量高濃度樣品領(lǐng)域的ZETA電位。
●Zeta電位
●粒徑
| 測量原理 | 粒徑 | 動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
| ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
| 分子量 | 靜態(tài)光散射法 | |
| 光學(xué)系統(tǒng) | 粒徑 | 零差光學(xué)系統(tǒng) |
| ZETA電位 | 外差光學(xué) | |
| 分子量 | 零差光學(xué)系統(tǒng) | |
| 光源 | 高功率半導(dǎo)體激光器 | |
| 探測器 | 高靈敏度APD | |
| 樣品池單元 | ZETA電位：標準池 微量一次性池或濃縮池 | |
| 粒度/分子量：方形池 | ||
| 溫度 | 0~90℃（帶溫度梯度功能） | |
| 電源 | 220V ± 10% 250VA | |
| 尺寸(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
| 重量 | 22Kg | |
| ZETA電位 | No effective limitations（無有效上限） |
| 電氣移動度 | -2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s |
| 粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
●對應(yīng)范圍
| 測量溫度范圍 | 0~90℃ |
| 測量濃度范圍 | Zeta電位：0.001～40% 粒徑：0.00001%（0.1ppm)~40%*1 |
*1（標準粒子： 0.00001 ～ 10%、?；撬幔?nbsp;～ 40%）
可測量粒子徑與ZETA電位電位的樣品池套件
可測量粒徑的樣品池套件，可使用市面上的四角樣品槽
可以測量濃度范圍為0.00001%（0.1ppm）的稀溶液到40%的濃溶液對應(yīng)的粒徑和ζ電位。
使用靜態(tài)光散射法可以進行絕對分子量的測定以及第二利比亞系數(shù)的分析
通過從正面、側(cè)面和背面三個角度進行測量和分析，我們提供了具有更高分辨率的粒徑分布。
無法通過1角測度量分離的樣品也可以通過3角度測量和分析分離為多個峰。
通過動態(tài)光散射使能夠測量諸如聚合物和蛋白質(zhì)之類的軟結(jié)構(gòu)的粘彈性。
通過測量凝膠樣品在多個點的散射強度和擴散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。
能夠測定平板狀或薄膜狀試樣表面zeta電位的單元也可在高鹽濃度環(huán)境下進行測量。
●易于組裝的結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)了不使用螺絲的結(jié)構(gòu)
●配備簡易的涂層，客戶可自行進行涂層
●支持小尺寸樣品，10X10mm
可微量（130uL~）測量ZETA電位的Cell unit
可測量濃厚懸濁樣品的ZETA電位的Cell unit
可以測量非極性溶液的ZETA電位cell unit
也可對應(yīng)介電常數(shù)在10以下的溶劑
可微量（3uL~）測量粒徑的Cell unit
可自動測量隨著不同pH值或添加劑濃度的粒徑/ZETA電位變化。
可以和Zeta電位平板樣品Cell相連。
可通過自動測量等電點縮短工作時間。
實測解析分子量時必bi不可少的參數(shù)dn/dc
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