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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
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更新時(shí)間：2025-01-23
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：517
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：392
●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實(shí)現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利） ●實(shí)現(xiàn)高速測量（500萬點(diǎn)以上/分）
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：532
●采用線掃描方式檢測整面薄膜 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) ●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 ●實(shí)現(xiàn)高精度測量（已獲取專zhuan利） ●實(shí)現(xiàn)高速測量 ●不受偏差影響 ●可對(duì)應(yīng)寬幅樣品（TD方向最大可測量10m）
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：498
●通過分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測量 ●從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量 ●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍 ●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品 ●用軟件批量控制電源和測量儀器
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：379
●該檢測器是一種高性能的分光光度計(jì)，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項(xiàng)成果。 ●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍 ●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制 ●LIV測量，脈沖點(diǎn)測量，樣品溫控測量 ●設(shè)備校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準(zhǔn)公司注冊。
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：359公司郵箱： qgao@buybm.com
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